INNOVENT - Technologieentwicklung Jena

Defektoskopie

Lokale Defekte auf einer Prüflingsoberfläche verändern stark das Streulichtverhalten bei optischer Abtastung mit einem Laserstrahl. Durch Optimierung einer Empfängereinheit, die das Streulicht partiell integral empfängt und bewertet, können Defekte zuverlässig detektiert werden. Das Verfahren ist bevorzugt für die Gütekontrolle von Oberflächen einzusetzen, deren Material- und Topographieparameter geringfügig schwanken und deren Fehlstellen eine eindeutige Änderung in der Oberflächentopographie darstellen (Riefen, Kratzer, Einschläge, Aus- und Abbrüche). Die Optimierung der Beleuchtungsparameter, die Entwicklung einer angepassten Detektoroptik sowie die Einbindung von günstigen Signalverarbeitungsalgorithmen in die Auswertsoftware ermöglichen eine Inprozesskontrolle, die die Defekte lokalisiert und gegebenenfalls klassifiziert.