INNOVENT - Technologieentwicklung Jena


 

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Tagungsprogramm, registrierte Poster und Industrieaussteller

 

Download Tagungsprogramm   Programm 2012 

8. ThGOT am 04. September 2012

ab 08:00 Anmeldung 
08:30 Eröffnung und Grußworte

09:00

Neue Anwendungen poröser Materialien in der Oberflächentechnik - Ein Überblick Wayne Daniell NanoScape AG, Planegg-Martinsried

09:40
 

Analyse von Grenz- und Oberflächen mittels Licht Prof. Dr. Bernd Abel Wilhelm-Ostwald-Institute for Physical and Theoretical Chemistry University Leipzig

10:20
 

Spontane Nanostrukturbildung an Oberflächen Prof. Dr. Dr. h.c. Klaus Wandelt Institut für Physikalische und Theoretische Chemie der Universität Bonn

11:00 - 11:30 Erfrischungspause
Kurzvorträge  
  BLOCK A BLOCK B / J-1013
11:30 IMPC - In-Mould Plasma Coating Kratzfest-beschichtung im Spritzgießprozess Julian Schild Inst. f. Kunststoffverarbeitung an RWTH Aachen

Funktionelle Beschichtungen unter Atmosphärendruckbedingungen  Andreas Pfuch INNOVENT e.V. Technologieentwicklung, Jena 

11:50

 Kombination von Al-Kaltgasspritzen und plasmaelektrolytische Oxidation zum Verschleiß- und Korrosionsschutz von Magnesiumlegierungen Carsten Blawert Helmholtz - Zentrum Geesthacht 

 Analyse der Wärmeverteilung bei CCVD-Prozessen an Garnen Andreas Neudeck Textilforschungsinstitut Thüringen-Vogtland e.V., Grei  
12:10 Kombination von Barrierelacken mit anorganischen Schichten zur Anwendung in flexiblen Verkapselungsmaterialien für Vakuumisolationspaneele Oliver Miesbauer
Fraunhofer-IVV, Freising
Untersuchungen am Einzelfaden im CVD-Verfahren zur Funktionalisierung Antje Krahmer Textilforschungsinstitut Thüringen-Vogtland e.V., Greiz  
12:30  Nanoporöse Körper mit definierter Geometrie Stefan Spange TU Chemnitz
 Optische Charakterisierung von mit HMDSO beladenen Propan-Flammen Wolfgang Paa Institut für Photonische Technologien e.V. (IPHT) Jena 
12:50 - 14:00 Mittagspause
14:00 Leitfähige CNT Dünnschichten in Polymer-oberflächen Jens Liebich Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik, Dresden
Permanente flammenhemmende Wirkung an textilen Flächengebilden aus PES, PP und PA durch CVD-Verfahren Monika Weiser Textilforschungsinstitut Thüringen-Vogtland e.V., Greiz  
14:20  Kontinuierliche Mehrfachbeschichtung – unmöglich? Moritz Graf zu Eulenburg InovisCoat GmbH, Monheim am Rhein
Evaluierung der antimikrobiellen Wirksamkeit von Fadenmaterial mit permanenter Silber-ausrüstung Michael Zieger Universitätsklinikum Jena 
14:40 Organische Leuchtdioden - Barriereschichten und optische Auskopplung Gotthard Weißflog OLED-Netzwerk OLAB  Funktionelle Beschichtungen unter Verwendung eines AD-Mehrstrahl-plasmasystems Max Ramm INNOVENT e.V. Technologieentwicklung, Jena 
15:00 - 15:30 Energiepause Block B
15:30 Optische Untersuchung strukturierter Oberflächen Tammo Böntgen
Universität Leipzig
Fortschritt in der Dünnschichtindustrie mit linearer PECVD Technologie für große Oberflächen Toni Jochum Just Vacuum GmbH, Landstuh
15:50 Anti-reflection coating of solar glass with photo catalytic self-cleaning properties Lutz Gradewald NADICO Technologie GmbH, Langenfeld  Plasma Jet Machining – Ultrapräzisions-Formgebung von Oberflächen Thomas Arnold Leibniz-Institut für Oberlfächenmodifizierung, Leipzig 
16:10 Thermochrome PVD- Schichten Tobias Müller Creavac GmbH, Dresde Nasschemisch geätzte Silizium-Nanodrähte als Grundlage neuartiger Solarzellen Björn Hoffmann Max-Planck-Institut für die Physik des Lichts, Erlangen
16:30 Posterschau  
19:00

Abendveranstaltung mit Posterprämierung [ThGOT] in Leipzig

8. ThGOT am 05. September 2012
 

08:30 Überblick zu Verfahren der Schichtanalytik unter Ultrahochvakuum-Bedingungen Dr. Albrecht Feltz Omicron NanoTechnology GmbH, Taunusstein
09:10

Reinigungs- und Vorbehandlungsverfahren Prof. Dr.-Ing. Brigitte Haase Hochschule Bremerhaven

09:50 - 10:20 Erfrischungspause
Kurzvorträge  
  BLOCK A BLOCK B
10:20 Ellipsometrische Untersuchung der Effekte des Reinigens mittels Ar-Ion Sputtern auf Halbleiteroberflächen Sven Peters SENTECH Instruments GmbH, Berlin
Schadensanalysen an Grenz- und Oberflächen Michael Ballhorn Freudenberg Forschungsdienste KG, Weinheim

10:40

Korrosionsinhibierende Plasmapolymer-schichten für metallische Substrate als Vor/Nachbehandlung Ute Holzhausen Institut für Lacke und Farben e. V., Magdeburg
Neue Möglichkeiten der Schichtanalytik durch Weiterentwicklungen in der Flugzeitsekundärionen-massenspektrometrie (ToF-SIMS) Reinhard Kersting Tascon GmbH, Münster
11:00  "NanoClean" – Schonende Reinigung nano-strukturierter Oberflächen mittels Megasonic-Energie Joachim Straka SONOSYS Ultraschallsysteme GmbH, Neuenbürg  Untersuchung der Diffusionsvorgänge zwischen Substrat, Beschichtung und Glas beim Präzisionsblankpressen Kyriakos Georgiadis Fraunhofer IPT, Aachen
11:20 V orbehandlung von Magnesiumoberflächen - Ein Überblick zur Reinigung und Aktivierung Daniel Höche Helmholtz-Zentrum Geesthacht  Neue Prüfmöglichkeiten durch Thermische Schichtprüfung Nils A. Reinke Optoelectronic Research Laboratory, Winterthur Schweiz
11:40 - 13:10 Mittagsimbiss und Industrieausstellung
13:10 Einsatz von Vakuum-UV-Excimerstrahlung zur Aktivierung von Polymeren Christopher Dölle Fraunhofer-IFAM, Bremen
Überwachung und Steuerung von Plasmabeschichtungsprozessen mit einer Aktiven Thermosonde zur richtungsabhängigen Messung des Energieeintrages  Andreas Vogelsang neoplas GmbH, Greifswald 
13:30   VUV-Bestrahlung unter Atmosphären-bedingungen - eine attraktive Methode der Oberflächenaktivierung Jana Wintzer INNOVENT e. V. Technologieentwicklung, Jena Tailoring the barrier properties of SiO2-like films applied by a large-scale roll-to roll-plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) process Stefanie Wald Fraunhofer IFAM, Bremen
13:50 Laserstrahlpolierte Quarzglasoberflächen Hartmut Müller Günter-Köhler-Inst. f. Fügetechnik und Werkstoffprüfung GmbH, Jena
Zerstörungsfreie Kontaktwinkelmessung bei schwierigen Geometrien Jan Köhl KRÜSS GmbH Wissenschaftliche Laborgeräte, Hamburg
14:10 Hochpräzise UKP-Lasermikrobearbeitung von Keramiken Rigo Peters Schweißtechnische Lehr- und Versuchsanstalt Mecklenburg-Vorpommern GmbH, Rostock

Echtzeit-Überwachung von Plasmaprozessen mittels hochselektiver und sehr präziser Laserabsorptions-spektroskopie Frank Hempel neoplas control GmbH, Greifswald

14:30 - 15:00 Energiepause  
15:00  Einfaches Niedertemperatur-Normaldruck-CVD-Verfahren zur Oberflächenmodifizierung Rolf Sokoll INNOVENT e.V. Technologieentwicklung, Jena
Charakterisierung von rauen Oberflächen mittels Wilhelmy-Plattenmethode Christian W. Karl Deutsches Institut für Kautschuktechnologie, Hannover
15:20

Easy Clean Nano-Beschichtung auf Plastikoberflächen Franz Hörzenberger OCAS NV, Zelzate Belgien

Parallele optische Kohärenz Tomografie Christian Florin flo-ir berührungslos messen, Oberdorf Schweiz
15:40 Transparent-leitfähige Zinkoxid Schichten hergestellt unter Atmosphärenbedingungen mittels C-CVD Ivo Zunke Friedrich-Schiller Universität Jena Inline Meßsysteme für die Prozesskontrolle und -optimierung am Beispiel der Beschichtung von High-End Batterie-Separationsfolien Hans Örley Dr. Schenk GmbH Industriemesstechnik, Planegg
16:00 Pyroelektrische Oberflächen mit desinfizierender Wirkung Annegret Benke TU Dresden
Charakterisierung und Anwendung elektronenstrahlgenerierter poröser Cryogele Senta Reichelt Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e.V., Leipzig
19:00

Abendveranstaltung im Tagungshotel




Optik-Kolloquium am 06. September 2012

ab 08:00 Anmeldung 
08:30 Eröffnung und Grußworte
08:45 Trends in der Beschichtung
Helmut Bernitzki
JENOPTIK Optical Systems GmbH, Jena
09:25 Strukturierte Oberflächen für die Optik
Dr. Alexandre Gatto
Carl Zeiss Jena GmbH
10:05 - 10:50 Erfrischungspause und Posterschau
10:50 Optische Filter für die Fluoreszenzdetektion 
Dr. Michaela Michaelis
Optics Balzers Jena
11:30 Nanostrukturierte Grenzflächen und dünne Schichten für die Photovoltaik
Kevin Füchsel Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik, Jena
12:10 - 13:20 Mittagsimbiss und Posterschau
Kurzvorträge  
  Block A Block B
13:20
Optische Charakterisierung von ZnO:Al-Schichten hoher Mobilität Florian Ruske Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie
 Dünnschichtfilter im nahen Infrarot mit gesputterten amorphen Silizium Schichten Othmar Züger Optics Balzers AG, Jena
13:40 Lineare Verdampfungsquelle für "Large Area CIGS Solar Cell Manufacturing
Werner Klug VPT Europe GmbH, Hanau
 Vergleich zwischen Einwellenlängen- und Breitbandmonitoring für IR-Bockungsfilter
Petra Heger Optic Balzers AG, Jena
14:00 Abscheidung von CdTe-Solarabsorber-schichten Katrin Häfner Fraunhofer-Institut für Elektronenstrahl- und Plasmatechnik, Dresden
 Erfassung von Plasmakenngrößen für die Optimierung der Prozesssteuerung von Plasma-Ionengestützter Deposition optischer Präzisionsschichten Jens Harhausen Leibniz-Inst. f. Plasmaforschung & Technologie, Greifswald
14:20  Plasmonic light-management for photo-voltaic devices using metal nanostructures Frank Lenzmann Energy research center of the Netherlands, Zgpetten NL
 Optische Eigenschaften von transparenten leitfähigen Oxiden auf Kunststofffolien Matthias Fahland Fraunhofer-Institut für Elektronenstrahl- und Plasmatechnik, Dresden
14:40 - 15:10 Energiepause und Posterschau
15:10  Mikro- und Nanostrukturierung optischer Oberflächen durch Ionenstrahlprozesse Frank Frost Leibniz-Inst. f. Oberflächenmodifizierung e.V., Leipzig
 Technologie zur hochpräzisen Abscheidung von Mehrlagenschichten auf Optiken für EUV-Anwendungen Dirk Rost Roth & Rau MicroSystems GmbH, Hohenstein-Ernstthal
15:20 Neue Technologie zur voll-optischen Mikro- und Nanostrukturierung für die Herstellung diffraktiv-optischer und photonischer Elemente Jürgen Wagner Fraunhofer - IAP, Potsdam
 In-situ Prozesskontrolle bei der Herstellung präzisionsoptischer Schichtsysteme durch reaktives Magnetron-Sputtern Peter Frach Fraunhofer-Institut für Elektronenstrahl- und Plasmatechnik, Dresden
15:40  Nanostrukturen zur Verbesserung der Lackhaftung auf Kunststoffoberflächen Peter Munzert Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik, Jena Gesputterte ITO-Kontakte für LEDs: Untersuchung der Plasmaeinwirkung auf das GaN-Substrat Silvia Schwyn Thöny Evatec Ltd., Flums Schweiz
16:00 - 16:30 Energiepause und Posterprämierung
16:30 Herstellung niedrigbrechender Schichten für leistungsfähige Entspiegelungen: Überblick Stephane Bruynooghe Carl Zeiss Jena GmbH, Oberkochen Nanometerpräzise Bearbeitung von Metalloberflächen mit gepulster Laserstrahlung Klaus Zimmer Leibniz-Inst. f. Oberflächenmodifizierung, Leipzig
16:50 Optische Schichten in der Raumfahrt Simon Chelkowski Jena-Optronik GmbH Schichtweiser Abtrag zur Formgebung optischer Gläser mit UKP-Laserstrahlung Christian Schindler FH Jena / IFW Jena
17:10 Dielektrisch verstärkte Aluminiumspiegel für VUV-Anwendungen Steffen Wilbrandt Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik, Jena Plasmonische Strukturen für die oberflächenverstärkte Raman-Spektroskopie (SERS) Karina Weber Friedrich-Schiller Universität Jena

Bislang registrierte Poster

Optimierungsstrategien für TiO2 Elektroden in Farbstoff-Solarzellen Kristina Dubnack, Martin Knaut, Ingo Dirnstorfer Friedrich Schiller Universität Jena
Keramischer Hohlfaserkontaktor Ingolf Voigt, Thomas Hoyer, Gundula Fischer, Susanne Kämnitz, Birgit Köhler, Ray Sikora, Friedhelm Tupaika, Frank-Günter Niemz, Thomas Schulze Fraunhofer - Institut für Keramische Technologien und Systeme
Plasmavorbehandlung und PECVD mittels LARGE-Plasmaquelle bei Atmosphärendruck Dipl.-Ing. Liliana Kotte, Dr. Holger Althues, Dr. Gerrit Mäder, Prof. Dr. Stefan Kaskel Fraunhofer - Institut für Werkstoff- und Strahltechnik

Bislang registrierte Aussteller

Anton Paar Germany GmbH, Potsdam
confovis GmbH, Jena
COTEC GmbH, Karlstein
DataPhysics Instruments GmbH, Filderstadt
Dr. Jürgen Christian Müller, Frankfurt a.M.
Fraunhofer Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik, Jena
JUST VACUUM GmbH, Landstuhl
INNOVENT e.V. Technologieentwicklung, Jena
KRÜSS GmbH Wissenschaftliche Laborgeräte, Hamburg
neoplas GmbH, Greifswald
Novotek GmbH, Stuttgart
Pfeiffer Vacuum GmbH, Asslar
Siemens AG, Barsbüttel
tascon GmbH, Münster
VAT Deutschland GmbH, Grasbrunn bei München
WAGNER Mess- und Regeltechnik GmbH, Offenbach

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