Tagungsprogramm

Hier finden Sie das komplette Tagungsprogramm für die 14. Thementage Grenz- und Oberflächentechnik sowie das 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik.

 

Programm-Flyer als PDF: Programm 2019

11.00

11.50

Anmeldung

Eröffnung & Grußworte

12.00

Benetzung, Verdampfung, Einfrieren: Molekulare Simulation von Nanotröpfchen auf Oberflächen
Florian Müller-Plathe
Technische Universität Darmstadt – Eduard-Zintl-Institut für Anorganische und Physikalische Chemie, Darmstadt

12.45

Magnetooptische Schichten für den industriellen Einsatz

Carsten Dubs INNOVENT e. V. – Magnetische & Optische Systeme, Jena

13.30

Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau

SESSION A

FUNKTIONELLE BESCHICHTUNGEN AUF NATÜRLICHEN MATERIALIEN

SESSION B

NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

14.00

Nutzung von Atmosphärendruckplasma für die Grundierung harzreicher Hölzer
Sven Gerullis
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena

R2R UV Roll-Nanoimprint: Mikro- und Nanostrukturierte Hybridmaterialien
Tom Felbeck
temicon GmbH – OF&E Rollimprint, Dortmund

14.20

Steinfell gegen Meerestiere
Jörg Zschätzsch
EBF Dresden GmbH, Dresden

CLEARPROTECT© 3D Barrier Coating
Daniel Haehnel
PLASMA ELECTRONIC GMBH, Neuenburg

14.40

Maschinenbetten aus jedem Naturstein? SolGel-Beschichtung macht‘s möglich!
Anett Kästner
ETC PRODUCTS GmbH, Deggendorf

Silanbasierte Reaktivcompounds für das Gleitschleifen
Andreas Brandl
INNOVENT e. V. – Primer und Chemische Oberflächenbehandlung, Jena

15.00

Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau

SESSION A

FUNKTIONELLE BESCHICHTUNGEN AUF NATÜRLICHEN MATERIALIEN

 

SESSION B

NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

 

15.30

Abscheiden von Leitfähigkeitsschichten auf holzbasierte Substrate mittels PVD
Judith Sinic
Kompetenzzentrum Holz GmbH, Linz (Österreich)

Oberflächenmesstechnik zur Simulation eines InkJetDruckprozesses
Martin Grüßer
DataPhysics Instruments GmbH, Filderstadt

15.50

Oberflächenfunktionalisierung von CNTs und deren Verwendung in der Sensorik
Sebastian Notz
Technische Universität Chemnitz – Anorganische Chemie – Institut für Chemie, Chemnitz

Multifunktionaler Plasma- und Beschichtungssensor zur Charakterisierung von Plasmaquellen für Beschichtungs- und Ätzprozesse
Klaus Ellmer
Optotransmitter-UmweltschutzTechnologie e.V., Berlin

16.10

Pflanzenöle als Bindemittel für Papierstreichfarben
Christiane Swaboda
Institut für Holztechnologie Dresden – Chemie/Umwelt, Dresden

Comprehensive Optical Spectroscopy Study of TiO2 Layers
Teresa I. Madeira
Technische Universität Chemnitz – Semiconductor Physics, Chemnitz

16.30

Posterschau & Posterwahl

18.30

Abendveranstaltung im Bio-Seehotel mit Gastvortrag Posterpreisverleihung

9.00

Auf dem Weg zur Industrie 4.0: Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets in der Oberflächentechnik
Uwe Beck
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin

9.45

Green Clean – nachhaltige Entwicklungsperspektiven für die Reinigung in der Oberflächentechnik
Peter M. Kunz
Hochschule Mannheim – Institut für Biologische Verfahrenstechnik, Mannheim

10.30

Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau

SESSION C

NEUE MESSVERFAHREN IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

SESSION B

NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

11.00

Oberflächenanalyse: mechanische Untersuchungen, elektrostatische Potenziale
Bastian Arlt
Anton Paar Germany GmbH, Ostfildern

Multifunktionale Sol-GelBeschichtungen auf Basis von Titanoxiden
Wolfgang Hering
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena

11.20

Frühzeitige Prozesskontrolle durch berührungslose Schichtdickenmessung
Nils Reinke
Winterthur Instruments AG, Winterthur (Schweiz)

UV-Laserbestrahlung zur trockenen Textilvorbehandlung
Dirk Wenzel
Sächsisches Textilforschungsinstitut e. V., Chemnitz

11.40

In-situ Benetzungs-/ Funktionsanalyse von Oberflächen mittels Streulichtsensorik
Nadja Felde
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena

Entwicklung hochohmiger Fäden auf Basis thermisch aktivierbarer Beschichtungen
Antje Krahmer
Textilforschungsinstitut Thüringen – Vogtland e. V., Greiz

12.00

Mittagspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau

SESSION C

NEUE MESSVERFAHREN IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

SESSION B

NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

13.10

Charakterisierung laserassistiert hergestellter, farbiger Metalloxidschichten
Mandy Hofmann
Technische Hochschule Wildau – INW/ Physikalische Technologien und Energiesysteme, Photonik, Wildau

Perichrome Sondenmoleküle zur Charakterisierung von Oberflächen
Stefan Spange
Technische Universität Chemnitz – Polymerchemie, Chemnitz

13.30

Zerstörungsfreie Charakterisierung von Schichten und Oberflächen mittels Laser-akustischer Oberflächenwellen
Volker Weihnacht
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS, Dresden

Silikone fügen ohne Klebstoff – mit VUV-Licht geht‘s!
Christopher Dölle
Fraunhofer-Institut für Fertigungstechnik und Angewandte Materialforschung, IFAM – PLATO, Bremen

13.50

Zerstörungsfreier Test zur Analyse von Defekten in dünnen Barriereschichten
Mariagrazia Troia
Universität Stuttgart – Institut für Grenzflächenverfahrenstechnik und Plasmatechnologie (IGVP), Stuttgart

Kontamination von Oberflächen über die Luft Moderne Anwendungen der Sekundärionen-Massenspektrometrie
Sebastian Galla-Stroth
OFG-Analytik – TOF-SIMS, Münster

14.10

Development of a parallelizable QCM-D biosensor array w. flexible sample routing
Siegfried Hohmann
Karlsruher Institut für Technologie (KIT) – Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG), EggensteinLeopoldshafen

Partikel für die Flammenpyrolyse
Björn Kretzschmar
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena

14.30

Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau

SESSION C

NEUE MESSVERFAHREN IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

SESSION B

NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK

15.00

Plasmabasierte Prozessregelung bei der Deposition von Interferenzoptik
Rüdiger Foest
Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie, Greifswald

Hochrateabscheidung von Schutzbeschichtungen mit einem Mikrowellenplasma
Stefan Merli
Universität Stuttgart – IGVP, Stuttgart

15.20

Ultra-high Lateral Resolution Optical Spectroscopies Applied to 2D Materials
Dietrich RT Zahn
Technische Universität Chemnitz – Semiconductor Physics, Chemnitz

Die Haftung von LSRPolypropylen-Verbunden nach Lagerung
Annette Rüppel
Universität Kassel – Institut für Werkstofftechnik, Kunststofftechnik, UNIpace – Plasmatechnologie, Kassel

15.40

Visualisierung von mikro- und nanoskalierten Oberflächensrukturen mittels abbildender Ellipsometrie
Daniel Fischer
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin

Ultradünne transparente Schichten zur Oberflächenhydrophobierung
Tina Tölke
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena

16.00

AtmosphärendruckPlasmavorbehandlung von Optiken und Gläsern vor dem Kitten und Verkleben
Marko Eichler
Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST, Braunschweig

Antimikrobielle Kunststoffoberflächen auf Basis von Titandioxid
Serhiy Yatsenko
SKZ – Das Kunststoff-Zentrum – Compoundieren/Extrudieren, Würzburg

18.00

Abendveranstaltung in der Festscheune Stelzendorf

8.30

8.45

Anmeldung

Eröffnung und Grußworte

9.00

Herausforderungen in globalen Märkten: Gebrauchselektonik, Automobil, Elektromobilität

Steffen Runkel Bühler

Alzenau GmBH – Business Area Leybold Optics, Alzenau

9.30

Anforderungen an die Funktionalisierung von Displays im Bereich Automotive

Thomas Oberbillig

COTEC GmbH – FuE, Karlstein

9.45

Moderne Beschichtungen für Brillen: Mehr als nur Entspiegelung

Bernhard von Blanckenhagen

Carl Zeiss Vision GmbH, Vision Care, Aalen

10.15

Zweidimensionale Halbleiter atomarer Dicke: neue Freiheitsgrade für aktive und passive optische Schichtsysteme

Falk Eilenberger

Friedrich-Schiller-Universität Jena / Abbe Center of Photonics / Fraunhofer-Institut

10.45

Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung und Posterschau

11.15

Options to Tailor Thin Film Properties by Ion Beam Sputter Deposition

Carsten Bundesmann

Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Leipzig

11.30

Entspiegelungen mittels ALD

Adriana Szeghalmi

Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena

11.45

Laser-induzierter Transfer von PVD-Schichten auf Produktoberflächen

Ralph Domnick

Ara-Coatings GmbH & Co. KG, Erlangen

12.00

Thin Film Lens Made by CMOS Process

Daniel Gäbler

X-FAB Semiconductor Foundries – Process Development, Erfurt

12.15

Spekulares Reflexionsvermögen und Streulichtverluste von Aluminium-Schichten im UV

Sven Stempfhuber

Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena

12.30

Mittagspause Besichtigung Industrieausstellung und Posterschau

13.30

Großflächige Interferenzfilter mit örtlich variabler optischer Funktion

Daniel Glöß

Fraunhofer FEP – Präzisionsbeschichtung, Dresden

13.45

Low Temperature Photochemical Preparation of Iron(III) Oxide Thin Films

Patrick C.

With Leibniz Institute of Surface Engineering (IOM) – Chemical Department, Leipzig

14.00

Neue Entwicklungen in der UV/Vis/NIR-Spektrometrie

Ivo Stemmler

PerkinElmer LAS (Germany) GmbH, Rodgau-Jügesheim

14.30

SIO X-Ray: Erhalten Sie einen Blick in das Material durch Kontaktexperimente

Nick Bierwisch

SIO – Software Entwicklung, Nordhausen

14.45

Two- and Three-Dimensional Analysis of Optical Materials on the Nanoscale

Christian Patzig

Fraunhofer Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS, Halle

15.00

Erfrischungspause, Besichtigung Industrieausstellung und Posterpreisverleihung

15.30

Terahertz & Thermografie: Prüfmethoden zur Dickenbestimmung im Kunststoffbereich

Marcel Mayr

SKZ – KFE gGmbH – Zerstörungsfreie Prüfung, Würzburg

15.45

Holographie und Schrumpfmesszelle – Validierung der Klebstoffhärtung für Optiken

Annett Hartmann

INNOVENT e. V. – Analytik und Werkstoffprüfung, Jena

16.00

Measurement of Physical Properties on Thin Film Materials

Heinz Renner

Linseis Messgeräte GmbH, Selb

16.15

Filmische Verunreinigungen: Folgen, Nachweismethoden und Vermeidung

Michael Pick

TREAMS GmbH, Großlöbichau

16.30

Vergleich von Anti-Reflex Schicht von optischen Gläsern mittels Rasterkraftmikroskopie

Holger Großmann Anton Paar

Germany GmbH – Mechanische Oberflächenanalyse, Ostfildern

16.45

Schnelle abbildende Ellipsometrie zur flächigen Inline-Messung

Ferdinant Bammer

TU Wien – Institut für Fertigungs- und Hochleistungslasertechnik, Wien (Österreich)