6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik Teil 3

Um das Warten auf die 14. ThGOT und das 6. Optik-Kolloquium zu verkürzen möchten wir Ihnen in den kommenden Wochen einen kleinen Vorgeschmack auf unsere zahlreichen spannenden Fachvorträge geben.

 

SIO X-Ray: Erhalten Sie einen Blick in das Material durch Kontaktexperimente
Nick Bierwisch / SIO  – Software Entwicklung, Nordhausen

 

Heutzutage werden die benutzten Materialien und Materialkombinationen in allen Anwendungsfeldern (z.B. optische oder Automobilindustrie, Flugzeugbau oder Extremsportarten) immer komplexer. Diese komplexen Strukturen werden gebraucht, um die Lebensdauer und die Leistung der Komponenten zu erhöhen. Die Anwendungen verlangen Verbesserungen in jedem Bereich eines solchen Werkstoffes.

Allerdings werden für solche Steigerungen erweiterte Analyse- und Optimierungsmethoden verlangt. Ingenieurwissen und Daumenregeln sind nicht mehr genug. Eine genaue Charakterisierung und die Optimierung solcher Strukturen brauchen aber invertierbare mathematische Werkzeuge mit ganzheitlichem Charakter. SIO hat hierfür analytischen Modelle entwickelt, welche die Simulation der komplexen Kontaktsituationen extrem beschleunig im Vergleich zu FEM Systemen.

 

Dieser Vortrag wird am 14.03.2019 um 14:30 Uhr im 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik

 

Two- and Three-Dimensional Analysis of Optical Materials on the Nanoscale
Christian Patzig / Fraunhofer Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS  – Optische Materialien und Technologien, Halle

 

Nowadays, the function of many optical materials and devices critically relies on the pre-cise control of the micro- and nanostructure of either the material itself, e.g. for glass-ceramics that consist of a glassy matrix with embedded, nanoscopic crystals, or the func-tionalized surface thereof, e.g. for highly reflective laser mirrors that consist of thin-film multilayer based structures such as alternating high-and low refractive index materials with layer thicknesses in the nanometer range.

The ever-increasing requirements for such optical materials and components, including the homogeneous size distribution of crystalline phases within a glass-ceramic, or the contamination-free, large scale deposition of alternating thin films with thicknesses of a few monolayers only, pose new challenges to the analysis techniques used to get detailed insights into the nanostructure of these materials.

For two different classes of optical materials and systems, it will be shown how state-of-the-art nanoanalytics can be used to answer questions related to size and thickness, homogeneity, purity, crystallinity, and even the three-dimensional distribution of particles within a matrix: for effect-pigment coatings that are used for specialized, sparkling var-nishes, as well as for next-generation EUV-reflecting devices based on ultrathin multilayer stacks of LaN and B4C.

 

Dieser Vortrag wird am 14.03.2019 um 14:45 Uhr im 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik