6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik Teil 4

Um das Warten auf die 14. ThGOT und das 6. Optik-Kolloquium zu verkürzen möchten wir Ihnen in den kommenden Wochen einen kleinen Vorgeschmack auf unsere zahlreichen spannenden Fachvorträge geben.

 

Terahertz & Thermografie: Prüfmethoden zur Dickenbestimmung im Kunststoffbereich
Marcel Mayr / SKZ – KFE gGmbH  – Zerstörungsfreie Prüfung, Würzburg

 

Die Bestimmung von Wand- und Schichtdicken ist für eine Vielzahl von industriellen Prozessen aufgrund geforderter Qualitätsparameter von großer Bedeutung. Zudem verlangen Umweltaspekte und intensiver Wettbewerb nach effizienten Fertigungsmethoden mit minimalem Material- und Energieverbrauch, was entsprechende Messtechnik voraussetzt.

Laufzeitmessungen mittels elektromagnetischer Wellen stellen eine sehr zuverlässige und effiziente Methode dar, um mittels bekannter Ausbreitungsgeschwindigkeiten die Wand- und einzelne Schichtdicken, beispielsweise bei Mehrschichtsystemen, punktuell mit Genauigkeiten im Mikrometerbereich zu bestimmen. Kunststoffe weisen insbesondere im Terahertz (THz)-Spektralbereich gute Transmissionseigenschaften auf, weswegen sich die Verwendung von THz-Pulsen für die Wand- und Schichtdickenbestimmung hervorragend eignet. Im Gegensatz zur Ultraschalltechnik können mit der THz-Messtechnik auch geschäumte Kunststoffe untersucht werden.

Zudem wird kein Ankopplungsmedium benötigt und die Messung kann demnach berührungslos stattfinden. Ein weiteres Verfahren zur Schichtdickenmessung stellt die aktive Thermografie dar. Nach aktiver Erwärmung eines Bauteils und der Betrachtung der Oberflächentemperatur mittels einer Infrarot-Kamera lassen sich Aussagen zur inneren Struktur und vorhandener Schichtdicken eines Bauteils treffen.

 

 

Dieser Vortrag wird am 14.03.2019 um 15:30 Uhr im 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik

 

Entspiegelungen mittels ALD
Dr. Adriana Szeghalmi / Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena

 

Entspiegelungen sind essentiell für fast alle optischen Systeme, von einfachen Konsumgütern wie z.B. Brillen oder Kameras bis zu anspruchsvollen Anwendungen, wie z.B. satellitengestützte Bildgebung und Überwachung oder Laserprozesstechnik. In diesem Beitrag präsentieren wir die Vorteile der Atomlagenabscheidung (ALD, atomic layer deposition) für optische Komponenten am Beispiel von Einzelschicht- und Breitbandentspiegelungen. Komplex geformte Substrate aus Glas oder Polymeren wurden entlang der gesamten Oberfläche vergütet.

 

 

Dieser Vortrag wird am 14.03.2019 um 11:30 Uhr im 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik