Tagungsprogramm
Hier finden Sie das komplette Tagungsprogramm für die 14. Thementage Grenz- und Oberflächentechnik sowie das 6. Kolloquium Dünne Schichten in der Optik.
Programm-Flyer als PDF: Programm 2019
11.00
11.50
Anmeldung
Eröffnung & Grußworte
12.00
Benetzung, Verdampfung, Einfrieren: Molekulare Simulation von Nanotröpfchen auf Oberflächen
Florian Müller-Plathe
Technische Universität Darmstadt – Eduard-Zintl-Institut für Anorganische und Physikalische Chemie, Darmstadt
12.45
Magnetooptische Schichten für den industriellen Einsatz
Carsten Dubs INNOVENT e. V. – Magnetische & Optische Systeme, Jena
13.30
Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau
SESSION A
FUNKTIONELLE BESCHICHTUNGEN AUF NATÜRLICHEN MATERIALIEN
SESSION B
NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
14.00
Nutzung von Atmosphärendruckplasma für die Grundierung harzreicher Hölzer
Sven Gerullis
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena
R2R UV-Roll-Nanoimprint: Mikro- und Nanostrukturierte Hybridmaterialien
Tom Felbeck
temicon GmbH – OF&E Rollimprint, Dortmund
14.20
Steinfell gegen Meerestiere
Jörg Zschätzsch
EBF Dresden GmbH, Dresden
CLEARPROTECT© 3D
Daniel Haehnel
PLASMA ELECTRONIC GMBH – R&D, Neuenburg
14.40
Maschinenbetten aus jedem Naturstein? SolGel-Beschichtung macht‘s möglich!
Anett Kästner
ETC PRODUCTS GmbH, Deggendorf
Silanbasierte Reaktivcompounds für das Gleitschleifen
Andreas Brandl
INNOVENT e. V. – Primer und Chemische Oberflächenbehandlung, Jena
15.00
Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau
SESSION A
FUNKTIONELLE BESCHICHTUNGEN AUF NATÜRLICHEN MATERIALIEN
SESSION B
NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
15.30
Abscheiden von Leitfähigkeitsschichten auf holzbasierte Substrate mittels PVD
Judith Sinic
Kompetenzzentrum Holz GmbH, Linz (Österreich)
Oberflächenmesstechnik zur Simulation eines InkJetDruckprozesses
Martin Grüßer
DataPhysics Instruments GmbH, Filderstadt
15.50
Oberflächenfunktionalisierung von Kohlenstoffnanoröhren und deren Verwendung in der Sensorik
Sebastian Notz
Technische Universität Chemnitz – Anorganische Chemie – Institut für Chemie, Chemnitz
Multifunktionaler Plasma- und Beschichtungssensor zur Charakterisierung von Plasmaquellen für Beschichtungs- und Ätzprozesse
Klaus Ellmer
Optotransmitter-UmweltschutzTechnologie e.V., Berlin
16.10
Pflanzenöle als Bindemittel für Papierstreichfarben
Christiane Swaboda
Institut für Holztechnologie Dresden – Chemie/Umwelt, Dresden
Comprehensive Optical Spectroscopy Study of TiO2 Layers
Teresa I. Madeira
Technische Universität Chemnitz – Semiconductor Physics, Chemnitz
16.30
Posterschau & Posterwahl
18.30
Abendveranstaltung im Bio-Seehotel mit Gastvortrag Posterpreisverleihung
9.00
Auf dem Weg zur Industrie 4.0: Bestimmung von Messunsicherheitsbudgets in der Oberflächentechnik
Uwe Beck
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin
9.45
Green Clean – nachhaltige Entwicklungsperspektiven für die Reinigung in der Oberflächentechnik
Peter M. Kunz
Hochschule Mannheim – Institut für Biologische Verfahrenstechnik, Mannheim
10.30
Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau
SESSION C
NEUE MESSVERFAHREN IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
SESSION B
NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
11.00
Oberflächenanalyse: mechanische Untersuchungen, elektrostatische Potenziale
Bastian Arlt
Anton Paar Germany GmbH, Ostfildern
Multifunktionale Sol-Gel-Beschichtungen auf Basis von TiO2
Wolfgang Hering
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena
11.20
Frühzeitige Prozesskontrolle durch berührungslose Schichtdickenmessung
Nils Reinke
Winterthur Instruments AG, Winterthur (Schweiz)
UV-Laserbestrahlung zur trockenen Textilvorbehandlung
Dirk Wenzel
Sächsisches Textilforschungsinstitut e. V., Chemnitz
11.40
In-situ Benetzungs-/ Funktionsanalyse von Oberflächen mittels Streulichtsensorik
Nadja Felde
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena
Entwicklung eines hochohmigen Fadens auf Basis einer thermisch aktivierbaren Beschichtung
Antje Krahmer
Textilforschungsinstitut Thüringen – Vogtland e. V., Greiz
12.00
Mittagspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau
SESSION C
NEUE MESSVERFAHREN IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
SESSION B
NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
13.10
Charakterisierung laserassistiert hergestellter, farbiger Metalloxidschichten
Mandy Hofmann
Technische Hochschule Wildau – INW/ Physikalische Technologien und Energiesysteme, Photonik, Wildau
Perichrome Sondenmoleküle zur Charakterisierung von Oberflächen
Stefan Spange
Technische Universität Chemnitz – Polymerchemie, Chemnitz
13.30
Zerstörungsfreie Charakterisierung von Schichten und Oberflächen mittels Laser-akustischer Oberflächenwellen
Volker Weihnacht
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS, Dresden
Silikone fügen ohne Klebstoff – mit VUV-Licht geht‘s!
Christopher Dölle
Fraunhofer-Institut für Fertigungstechnik und Angewandte Materialforschung, IFAM – PLATO, Bremen
13.50
Non-destructive test for the analysis of defects in thin barrier films
Mariagrazia Troia
Universität Stuttgart – Institut für Grenzflächenverfahrenstechnik und Plasmatechnologie (IGVP), Stuttgart
Kontamination von Oberflächen über die Luft Moderne Anwendungen der Sekundärionen-Massenspektrometrie
Sebastian Galla-Stroth
OFG-Analytik – TOF-SIMS, Münster
14.10
Development of a parallelizable QCM-D biosensor array w. flexible sample routing
Siegfried Hohmann
Karlsruher Institut für Technologie (KIT) – Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG), EggensteinLeopoldshafen
Partikel für die Flammenpyrolyse
Björn Kretzschmar
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena
14.30
Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung & Posterschau
SESSION C
NEUE MESSVERFAHREN IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
SESSION B
NEUE TRENDS IN DER OBERFLÄCHENTECHNIK
15.00
Plasmabasierte Prozessregelung bei der Deposition von Interferenzoptik
Rüdiger Foest
Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie, Greifswald
Hochrateabscheidung von Schutzbeschichtungen mit einem Mikrowellenplasma
Stefan Merli
Universität Stuttgart – IGVP, Stuttgart
15.20
Ultra-high Lateral Resolution Optical Spectroscopies Applied to 2D Materials
Dietrich RT Zahn
Technische Universität Chemnitz – Semiconductor Physics, Chemnitz
Die Haftung von LSRPolypropylen-Verbunden nach Lagerung
Annette Rüppel
Universität Kassel – Institut für Werkstofftechnik, Kunststofftechnik, UNIpace – Plasmatechnologie, Kassel
15.40
Visualisierung von mikro- und nanoskalierten Oberflächensrukturen mittels abbildender Ellipsometrie
Daniel Fischer
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin
Ultradünne transparente Schichten zur Oberflächenhydrophobierung
Tina Tölke
INNOVENT e. V. – Oberflächentechnik, Jena
16.00
AtmosphärendruckPlasmavorbehandlung von Optiken und Gläsern vor dem Kitten und Verkleben
Marko Eichler
Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST, Braunschweig
Antimikrobielle Kunststoffoberflächen auf Basis von Titandioxid
Serhiy Yatsenko
SKZ – Das Kunststoff-Zentrum – Compoundieren/Extrudieren, Würzburg
18.00
Abendveranstaltung in der Festscheune Stelzendorf
8.30
8.45
Anmeldung
Eröffnung und Grußworte
9.00
Herausforderungen in globalen Märkten: Gebrauchselektonik, Automobil, Elektromobilität
Steffen Runkel Bühler
Alzenau GmBH – Business Area Leybold Optics, Alzenau
9.30
Anforderungen an die Funktionalisierung von Displays im Bereich Automotive
Thomas Oberbillig
COTEC GmbH – FuE, Karlstein
9.45
Moderne Beschichtungen für Brillen: Mehr als nur Entspiegelung
Bernhard von Blanckenhagen
Carl Zeiss Vision GmbH, Vision Care, Aalen
10.15
Zweidimensionale Halbleiter atomarer Dicke: neue Freiheitsgrade für aktive und passive optische Schichtsysteme
Falk Eilenberger
Friedrich-Schiller-Universität Jena / Abbe Center of Photonics / Fraunhofer-Institut
10.45
Erfrischungspause Besichtigung Industrieausstellung und Posterschau
11.15
Tailoring Thin Film Properties by Ion Beam Sputter Deposition
Carsten Bundesmann
Leibniz-Institut für Oberflächen-modifizierung (IOM) – Physikalische Abteilung, Leipzig
11.30
Entspiegelungen mittels ALD
Kristin Pfeiffer
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena
11.45
Laser-induzierter Transfer von PVD-Schichten auf Produktoberflächen
Ralph Domnick
Ara-Coatings GmbH & Co. KG, Erlangen
12.00
Thin Film Lens Made by CMOS Process
Daniel Gäbler
X-FAB Semiconductor Foundries – Process Development, Erfurt
12.15
Spekulares Reflexionsvermögen und Streulichtverluste von Aluminium-Schichten im UV
Sven Stempfhuber
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik (IOF), Jena
12.30
Mittagspause Besichtigung Industrieausstellung und Posterschau
13.30
Großflächige Interferenzfilter mit örtlich variabler optischer Funktion
Daniel Glöß
Fraunhofer FEP – Präzisionsbeschichtung, Dresden
13.45
Low Temperature Photochemical Preparation of Iron(III) Oxide Thin Films
Patrick C.
With Leibniz Institute of Surface Engineering (IOM) – Chemical Department, Leipzig
14.00
Neue Entwicklungen in der UV/Vis/NIR-Spektrometrie
Ivo Stemmler
PerkinElmer LAS (Germany) GmbH, Rodgau-Jügesheim
14.30
SIO X-Ray: Erhalten Sie einen Blick in das Material durch Kontaktexperimente
Nick Bierwisch
SIO – Software Entwicklung, Nordhausen
14.45
Two- and Three-Dimensional Analysis of Optical Materials on the Nanoscale using TEM, XRM, and ToF-SIMS
Christian Patzig
Fraunhofer Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS, Halle
15.00
Erfrischungspause, Besichtigung Industrieausstellung und Posterpreisverleihung
15.30
Terahertz & Thermografie: Prüfmethoden zur Dickenbestimmung im Kunststoffbereich
Marcel Mayr
SKZ – KFE gGmbH – Zerstörungsfreie Prüfung, Würzburg
15.45
Flächige Inline-Überwachung von Oberflächen
Ferdinand Bammer
TU Wien – Institut für Fertigungs- und Hochleistungslasertechnik, Wien (Österreich)
16.00
Measurement of Physical Properties on Thin Film Materials
Heinz Renner
Linseis Messgeräte GmbH, Selb
16.15
Filmische Verunreinigungen: Folgen, Nachweismethoden und Vermeidung
Michael Pick
TREAMS GmbH, Großlöbichau
16.30
Vergleich von Anti-Reflex Schicht von optischen Gläsern mittels Rasterkraftmikroskopie
Holger Großmann Anton Paar
Germany GmbH – Mechanische Oberflächenanalyse, Ostfildern
16.45
Holographie und Schrumpfmesszelle – Validierung der Klebstoffhärtung für Optiken
Annett Hartmann
INNOVENT e. V. – Analytik und Werkstoffprüfung, Jena